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有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。 给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。 输入格式 输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。 第二行到第n+1行为nn的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。 输出格式 按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号 例子 输入3
1 0 1 0 1 0 1 0 1 输出1 3
思路:因为,题目中说到好芯片的数量比坏芯片的数量多,因此只要判断每一个芯片的合格次数大于n/2即可。
代码呈上:
#includeint n;int a[20][20];int num[20]={ 0};int main (){ int i,j; scanf("%d",&n); for(i=1;i<=n;i++) for(j=1;j<=n;j++) { scanf("%d",&a[i][j]); if(a[i][j]==1) { num[j]++; //记录每一列的1 的个数 ,用于判断是否大于n/2 } } int flag=0;//设置输出格式 for(i=1;i<=n;i++) { if(num[i]>n/2) { if(flag==0) { printf("%d",i); flag=1; } else printf(" %d",i); } } return 0;}
运行示例
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